K.-H. Leitz

Institut für Optik, Information und Photonik, Max-Planck-Forschungsgruppe, Universität Erlangen-Nürnberg

1 paper

A1 · Talk · 108. Conference (2007)

Mikro-Deflektometrie

G. Häusler, K.-H. Leitz, C. Richter, M. C. Knauer