J. Flügge

Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, 38116 Braunschweig, Germany

3 Beiträge

A24 · Vortrag · 114. Tagung (2013)

Design des Verschiebeinterferometers zur Bestimmung der Gitterkonstante von Silizium mit einer relativen Unsicherheit von 3•10-9

C. Weichert, J. Flügge, R. Köning, P. Köchert

P38 · Poster · 111. Tagung (2010)

Diffraction microtomography with sample rotation : effect of the missing apple core on the reconstruction of the sample

S. Vertu, I. Yamada, J.-J. Delaunay, O. Haeberlé, J.Flügge

P19 · Poster · 108. Tagung (2007)

An investigation the defocus behavior of an optical microscope used for high precision length metrology

R. Köning, J. Flügge, H. Bosse