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ISSN 1614-8436
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M. Seifert
M. Seifert
Institut für Mess- und Regelungstechnik, Leibniz Universität Hannover
1 Beitrag
P54 · Poster · 108. Tagung (2007)
Bewertung von Weißlichtinterferometermessungen mit einer Kantenteststruktur
M. Rahlves, M. Seifert, T. Fahlbusch, J. Frühauf, E. Reithmeier