D. M. Giel

Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM, Freiburg

2 Beiträge

A25 · Vortrag · 111. Tagung (2010)

Realisierung eines hochauflösenden optischen Sensors auf Basis digitaler Mehrwellenlängenholografie

L. Megel , M. Fratz, D. Carl, G. Knoll, V. Jetter, D. M. Giel, H. Höfler
A27 · Vortrag · 109. Tagung (2008)

Digitale Mehrwellenlängen-Holographie für die schnelle optische Inline Qualitätskontrolle

D. Strohmeier, D. Carl, M. Fratz, D. M. Giel, H. Höfler