W. Mirandé

Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Bundesallee 100, 38116 Braunschweig, Germany

6 papers

P34 · Poster · 109. Conference (2008)

Konstruktive Realisierung eines hochaperturigen 193nm-Mikroskops für die quantitative dimensionelle Charakterisierung von Mikro- und Nanostrukturen

G. Ehret, F. Pilarski, D. Bergmann, B. Bodermann, E. Buhr, W. Mirandé
A27 · Talk · 106. Conference (2005)

Comparison of dark field microscopy with alternating grazing incidence illumination and bright field microscopy

G. Ehret, B. Bodermann, W. Mirandé
A29 · Talk · 106. Conference (2005)

Comparison of different microscope imaging models for different structure geometries on the basis of rigorous diffraction calculation

B. Bodermann, G. Ehret, W. Mirandé
P25 · Poster · 106. Conference (2005)

Evaluation of Scatterometry Tools for Critical Dimension Metrology

M. Wurm, B. Bodermann, W. Mirandé
P2 · Poster · 105. Conference (2004)

Einfluss von Polarisation, Einfallswinkel und Materialkonstanten bei der Dunkelfeldmikroskopie mit alternierender Beleuchtung bei streifendem Einfall

G. Ehret, B. Bodermann, W. Mirandé
P32 · Poster · 105. Conference (2004)

Einfluss geometrisch-optischer Strukturparameter sowie instrumenteller Parameter auf dimensionelle mikroskopische Messungen an Mikro- und Nanostrukturen

B. Bodermann, G. Ehret, W. Mirandé