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ISSN 1614-8436
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H. Heuck
H. Heuck
Leica Microsystems CMS GmbH Ernst-Leitz-Strasse 17-37 D-35578 Wetzlar
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C16 · Vortrag · 110. Tagung (2009)
High NA Fizeau Phase Shifting Interferometry
J. Wesner, H. Heuck, J. Heil