D. Weigel

Institut für Angewandte Optik, Friedrich-Schiller-Universität Jena

14 Beiträge

A10 · Vortrag · 119. Tagung (2018)

Erzeugung wiederholbarer Speckle-Muster zur 3D-Vermessung

A. W. Stark, E. Wong, D.Weigel, H. Babovsky, R. Kowarschik
A6 · Vortrag · 116. Tagung (2015)

Application of the Moiré-effect in digital holography

A. W. Stark, D. Weigel, H. Babovsky, A. Kießling, R. Kowarschik
P31 · Poster · 116. Tagung (2015)

Microscopy with an infinite depth of field

D. Weigel, A. Kiessling, R. Kowarschik
P32 · Poster · 116. Tagung (2015)

Aberration correction in coherence imaging microscopy

D. Weigel, A. Kiessling, R. Kowarschik
A15 · Vortrag · 115. Tagung (2014)

Mikroskopie mit unendlicher Schärfentiefe

D. Weigel, A. Kießling, R. Kowarschik
P16 · Poster · 115. Tagung (2014)

Einsatz des Bildinversionsverfahrens in der konfokalen Mikroskopie

D. Weigel, A. Kießling, R. Kowarschik
P23 · Poster · 114. Tagung (2013)

Verfahren zur hochaufgelösten Messung des komplexen Kohärenzgrades

D. Weigel, A. Kießling, R. Kowarschik
P29 · Poster · 114. Tagung (2013)

Kombination der digitalen Holografie mit der Bildinversionsmikroskopie

D. Weigel, A. Kießling, R. Kowarschik
P31 · Poster · 114. Tagung (2013)

Untersuchungen zur Punktbildverwaschungsfunktion in der Bildinversionsmikroskopie

D. Weigel, A. Kießling, R. Kowarschik
P41 · Poster · 113. Tagung (2012)

Simulation of higher order aberrations using adaptive optics

D. Weigel, H. Jungnickel, H. Babovsky, A. Kiessling, R. Kowarschik
P42 · Poster · 113. Tagung (2012)

Characterization of the deformable mirror Mirao 52e

D. Weigel, A. Kiessling, R. Kowarschik
B35 · Vortrag · 112. Tagung (2011)

Interferometrische Steigerung des Auflösungsvermögens optischer Rastermikroskope

D. Weigel, R. Förster, H. Babovsky, A. Kießling, R. Kowarschik
P8 · Poster · 111. Tagung (2010)

Auflösungssteigerung bei optischen Rastermikroskopen mit Hilfe eines bildinvertierenden Interferometers

D. Weigel, A. Kießling, R. Kowarschik
A24 · Vortrag · 110. Tagung (2009)

Improvement of the resolution in optical imaging systems by interference of against each other inverted image fields

D. Weigel, H. Babovsky, A. Kiessling, R. Kowarschik