M. Baier

Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig

3 Beiträge

A4 · Vortrag · 112. Tagung (2011)

Virtuelle und reale Experimente am neuen deflektometrischen Ebenheitsstandard

G. Ehret, M. Schulz, M. Baier, A. Fritzenreiter, W. Jöckel, M. Stavridis, C. Elster

A20 · Vortrag · 111. Tagung (2010)

Vergleich von hochgenauen deflektometrischen Verfahren für die Ebenheitsmetrologie

G. Ehret, M. Schulz, M. Baier, A. Fitzenreiter, M. Stavridis, C. Elster

P22 · Poster · 110. Tagung (2009)

A new optical flatness reference measurement system

G. Ehret, M. Schulz, M. Baier, A. Fitzenreiter