D. Giel
Fraunhofer IPM, Freiburg
3 Beiträge
B30 · Vortrag · 112. Tagung (2011)
Digitale Mehrwellenlängenholographie zur schnellen 3D-Vermessung technischer Oberflächen
A24 · Vortrag · 111. Tagung (2010)
Hochauflösendes 3D-Messystem auf Basis eines neuartigen digitalholographischen Multilambda-Sensors
B10 · Vortrag · 111. Tagung (2010)