T. Stöferle

IBM Research, Zurich Research Laboratory, Rüschlikon, Switzerland

1 paper

P48 · Poster · 111. Conference (2010)

Verbesserte Empfindlichkeit eines Photodetektors durch die Einführung resonanter Strukturen im Standard SOI CMOS Prozess

M.Auer, K.-H.Brenner, N.Moll, T.Morf, M.Fertig, T.Stöferle, R.F.Mahrt, J.Weiss, T.Pﬂüger