A. Bielke

ASML Berlin GmbH

9 Beiträge

A25 · Vortrag · 126. Tagung (2025)

Evaluation of the scalable interferometer „Mickey 350“

A. Bielke, V. Burgarth
A17 · Vortrag · 124. Tagung (2023)

Scalable Fizeau Interferometer

A. Bielke, V. Burgarth, M. Petrov
B29 · Vortrag · 118. Tagung (2017)

Streulichtreduzierung bei einem variablen Interferometer-Objektiv mit zwei diffraktiven Elementen

A. Bielke, C. Pruss, W. Osten
P29 · Poster · 117. Tagung (2016)

Model-based calibration of an adaptive interferometric setup

A. Bielke, G. Baer, C. Pruss, W. Osten
P13 · Poster · 116. Tagung (2015)

Calibration of interferometric non-null test setups

C. Pruß, A. Bielke, G. Baer, J. Schindler, W. Osten
A23 · Vortrag · 115. Tagung (2014)

Variables Interferometer-Objektiv für die Messung von Asphären und Freiformflächen

A. Bielke, C. Pruß, W. Osten
P20 · Poster · 114. Tagung (2013)

New improvement in calibration strategy for Structured-Illumination Macroscopy

Z. Yang, S. Awel, A. Bielke, P. Dienstbier, E. Olesch, C. Richter, G. Häusler
A10 · Vortrag · 113. Tagung (2012)

Optimization of global accuracy on specular surfaces with a "Dual Core" 3D sensor (SIM + µPMD)

Z. Yang, A. Bielke, G. Häusler
A6 · Vortrag · 112. Tagung (2011)

Full-field macroscopic measurement of specular, curved surfaces with SIM

Z. Yang, Ph. Dienstbier, A. Bielke, M. Vogel, Ch. Faber, G. Häusler