A. von Finck

Fraunhofer Institute for Applied Optics and Precision Engineering IOF

4 Beiträge

B19 · Vortrag · 116. Tagung (2015)

Multi-wavelength table top light scattering metrology

A. von Finck, M. Trost, S. Schröder, A. Duparré

B17 · Vortrag · 115. Tagung (2014)

System zur hochsensitiven spektral- und winkelaufgelösten Streulichtmessung an optischen Komponenten

S. Schröder, A. von Finck, D. Unglaub, A. Duparré

A29 · Vortrag · 113. Tagung (2012)

Optical performance and symmetry assessment of diamond cuts using the ALBATROSS-TT system

A. von Finck, M. Hauptvogel, A. Duparré

A10 · Vortrag · 112. Tagung (2011)

Table-Top Streulichtmesssystem ALBATROSS-TT

A. von Finck, M. Hauptvogel, A. Duparré