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ISSN 1614-8436
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M. Schäffer
M. Schäffer
Universität Jena, Institut für Angewandte Optik
1 Beitrag
P35 · Poster · 112. Tagung (2011)
Schnelle und genaue 3D-Vermessung
M. Große, M. Schäffer, B. Harendt, R. Kowarschik