S. Peters

SENTECH Instruments GmbH, Schwarzschildstraße 2,12489 Berlin , Germany

3 Beiträge

B35 · Vortrag · 124. Tagung (2023)

Messverfahren zur Kontrolle tiefer Siliziumstrukturen für die 3D-Chip-Integration

J. Bauer, F. Villasmunta, F. Heinrich, C. Villringer, J. Reck, S. Peters, A. Treffer, Chr. Kuhnt , St. Marschmeyer, O. Fursenko, P. Steglich , A. Mai , S. Schrader, M. Regehly

P7 · Poster · 114. Tagung (2013)

Bestimmung der Detektionseffizienz von Einzelphotonendetektoren

H. Hofer, S. Peters, W. Schmunk, S. Kück

P8 · Poster · 114. Tagung (2013)

Charakterisierung von Einzelphotonendetektoren bei 1,55 µm

S. Peters, H. Hofer, W. Schmunk, S. Kück, R. M. Klein, I. Müller