T. Siefke

Institute of Applied Physics, Friedrich-Schiller-Universität Jena

4 papers

P3 · Poster · 124. Conference (2023)

Konzepte für invertierte, achromatische plasmonische Linsen für nanooptische Systeme im sichtbaren und nahinfraroten Bereich

T. Käseberg, T. Siefke, B. Bodermann, S. Kroker

P13 · Poster · 122. Conference (2021)

Einzelstrukturcharakterisierung mittels abbildender Müller-Matrix-Ellipsometrie

T. Käseberg, J. Grundmann, T. Siefke, S. Kroker, B. Bodermann

P9 · Poster · 120. Conference (2019)

Sub-Wavelength Features in Spectroscopic Mueller Matrix Ellipsometry

T. Käseberg, T. Siefke, M. Wurm, S. Kroker , B. Bodermann

B11 · Talk · 115. Conference (2014)

Effiziente Strukturierungsmethoden für deterministische nanooptische Strukturen

D. Lehr, K. Dietrich, T. Siefke, M. Banasch, E.-B. Kley, A. Tünnermann