P16 · Poster · 116. Conference (2015)
A telecentric line scanning system: requirements in the macroscopic and microscopic regime
F. Loosen, N. Lindlein, K. Donner
A28 · Talk · 115. Conference (2014)
Telezentrischer Linienscanner auf Basis eines Ringflächenspiegels zur Oberflächenanalyse von Bauteilen
F. Loosen, W. Iff, N. Lindlein, K. Donner