R. Weiß

Fachgebiet Technische Optik, IMN MacroNano®, Technische Universität Ilmenau

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A35 · Vortrag · 115. Tagung (2014)

Parallelisierte chromatisch-konfokale Profilometrie mit einem Mehrkanalspektrometer

R. Weiß, R. Kirner, M. Hillenbrand, A. Grewe, C. Endrody, S. Sinzinger