R. Kirner

Fachgebiet Technische Optik, IMN MacroNano®, Technische Universität Ilmenau

1 paper

A35 · Talk · 115. Conference (2014)

Parallelisierte chromatisch-konfokale Profilometrie mit einem Mehrkanalspektrometer

R. Weiß, R. Kirner, M. Hillenbrand, A. Grewe, C. Endrody, S. Sinzinger