S. Eggenberger

SwissOptic AG, Berliner Glas Group

1 paper

P3 · Poster · 115. Conference (2014)

Design und Realisierung einer Breitband-Messeinrichtung (UV-NIR) zur spektralen Charakterisierung von optischen Schichten, Materialien und Systemen

S. Eggenberger, M. Zellweger, S. Reichelt