M. Bichra
Technische Universität Ilmenau
6 Beiträge
P45 · Poster · 119. Tagung (2018)
In-Line Verfahren zur Charakterisierung von Freiform Oberflächen
A10 · Vortrag · 118. Tagung (2017)
Einfluss der optischen Aberrationen und des Bildrauschens auf den Fourier-Ptychografie-Algorithmus
A24 · Vortrag · 118. Tagung (2017)
Innovative Verfahren zur Metrologie von Freiform Oberflächen
B22 · Vortrag · 117. Tagung (2016)
Subaperture wavefront measurement using Talbot interferometry
P9 · Poster · 116. Tagung (2015)
Wavefront sensor based on the modified Talbot Effect
P9 · Poster · 115. Tagung (2014)