Simon Eggenberger

SwissOptic AG (Switzerland)

1 paper

P3 · Poster · 115. Conference (2014)

Design und Realisierung einer Breitband-Messeinrichtung (UV-NIR) zur spektralen Charakterisierung von optischen Schichten, Materialien und Systemen

S. Eggenberger, M. Zellweger, S. Reichelt

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