DGaO·Proceedings ISSN 1614-8436
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Daniel Stiehler

Fachgebiet Qualitätssicherung und Industrielle Bildverarbeitung, Technische Universität Ilmenau

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A23 · Vortrag · 119. Tagung (2018)

Messtechnische Charakterisierung von orts- und multispektral auflösenden Filter-On-Chip CMOS-Sensorsystemen

P.-G. Dittrich, D. Stiehler, M. Rosenberger, G. Notni