T. Schäfer

Fakultät Ingenieurwissenschaften, Hochschule Aschaffenburg

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P10 · Poster · 119. Tagung (2018)

Analyse der Schichtspannungen von Röntgenspiegeln mit einem Weißlichtinterferometer

T. Döhring, A.-C. Probst, S. Zeising, T. Schäfer