A2 · Talk · 105. Conference (2004)
Automatisiertes Autofokus-Messsystem zur Oberflächen-Qualitätsprüfung
J. Miesner, K. Schnittker, H. Kreitlow
A37 · Talk · 105. Conference (2004)
Optoelektronischer Sensor zur automatisierten Verfolgung von zu schweißenden Nähten
H. Kreitlow, K. Schnittker, J. Miesner