J. Bartsch

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik GmbH, Klagenfurter Str. 5, 28359 Bremen

3 papers

B7 · Talk · 122. Conference (2021)

Sichtfäden - Ein neuer Ansatz zur generischen Kamerakalibrierung

S. Gauchan, J. Bartsch, R. B. Bergmann

A11 · Talk · 121. Conference (2020)

Modelling the influences of technical surfaces on Phase Measuring Deflectometry

S.K. Patra, J. Bartsch, M. Kalms, R.B. Bergmann

A12 · Talk · 121. Conference (2020)

Phasenmessende Deflektometrie mit aktiver Displayregistrierung

J. Bartsch, R.B. Bergmann