I. Zuhdi

Fachgebiet für Mikro- und Feingeräte, Technische Universität Berlin

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B5 · Talk · 124. Conference (2023)

KI-gestützte Qualitätsprüfung von optischen Systemen

J. Stockmann, M. Jagodzinski, I. Zuhdi, S. Kühne, D. Oberschmidt