Absolute Phasenmessende Deflektometrie
- Lehrstuhl für Optik, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg
mknauer [at] optik [dot] uni-erlangen [dot] de
Die "Phasenmessende Deflektometrie" (PMD) ist ein auf der Streifenprojektion basierendes Verfahren zur Vermessung spiegelnder Oberflächen. Die primäre Messgröße ist die lokale Neigung. Im Vortrag soll eine neue Methode vorgestellt werden, mit der zusätzlich zur Oberflächennormale n(x,y) die Höhe z(x,y) des Objekts bestimmt werden kann. Bisher war die Höhe nicht direkt messbar, sondern, im Gegenteil, zur exakten Neigungsberechnung unbedingt mit anzugeben. Mit der absoluten PMD können nun spiegelnde Freiformflächen beliebig im Messraum platziert und vermessen werden.
@inproceedings{knauer2004a15,
author = {Knauer, Markus and Kaminski, Jürgen and Häusler, Gerd},
title = {{Absolute Phasenmessende Deflektometrie}},
booktitle = {DGaO-Proceedings 2004},
series = {DGaO-Proceedings},
eventtitle = {105. Jahrestagung der DGaO},
eventdate = {2004-06-02/2004-06-05},
venue = {Bad Kreuznach},
publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
year = {2004},
pages = {A15},
langid = {ngerman},
url = {https://dgao-proceedings.de/paper/105-a15}
}
105. Jahrestagung der DGaO · Bad Kreuznach · 2004