Richtungscodierte Deflektometrie
Rodenstock GmbH, München und Lehrstuhl für Optik, Universität Erlangen-Nürnberg
Abstract
Zur Vermessung spiegelnder Freiformflächen werden Verfahren benötigt, die eine eindeutige, schnelle Vermessung und Auswertung ermöglichen. Ein solches Verfahren ist die "Phasenmessende Deflektometrie (PMD)", bei der die Oberflächenneigung über die Verbiegung von reflektierten Sinus-Streifenmustern bestimmt wird. Bei einer nicht-telezentrischen Anordnung ist die gemessene Neigung abhängig von der Höhe des Messpunktes. Diese Höhenabhängigkeit muss durch Zusatzinformation herauskalibriert werden. Hier soll nun eine neue -telezentrische- Implementation von PMD vorgestellt werden, bei der durch direkte Codierung der Beleuchtungsrichtung die Oberflächennormale unabhängig von der Höhe im Messraum bestimmt wird. Mit dieser "Richtungscodierten (phasenmessenden) Deflektometrie" (RCD) ist nun eine konzeptuell einfache und genaue Erfassung der Oberflächennormale möglich.