Kombiniertes räumlich phasenschiebendes Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI)/ Shearographie-System

Bei Untersuchungen zur zerstörungsfreien Materialprüfung sind sowohl Informationen über Oberflächenverformungen bei Belastung eines Prüfkörpers als auch deren Gradient wichtige Kriterien für die Detektion von Materialfehlern. Aus diesem Grund wurde ein "out-of-plane"-sensitives Interferometersystem zur Verschiebungsdetektion entwickelt, welches als Electronic Speckle Pattern Interferometer und digitales Shearographiesystem betrieben werden kann. Das System erlaubt in beiden Betriebsarten die Differenzphasenbestimmung mit einem räumlichen Phasenschiebeverfahren, wodurch eine weitgehend störungsunempfindliche Detektion von Verschiebungen bzw. deren Gradienten möglich ist. Ergebnisse von Untersuchungen zur Charakterisierung und Optimierung des Interferometers bzgl. des räumlichen Phasenschiebeverfahrens, die im Vergleich für ESPI und digitale Shearographie durchgeführt wurden, sowie Resultate von Anwendungen des Systems bei der Analyse von kulturhistorischen Gütern werden vorgestellt.