Charakterisierung und Vergleich von Firewire-basierten Farb-CCD-Kamerasystemen für den Einsatz bei der räumlich phasenschiebenden elektronischen Specklemuster Interferometrie (ESPI)

Die Elektronische Specklemuster Interferometrie (ESPI) ist ein optisches Verfahren zur berührungslosen, zerstörungsfreien und hochauflösenden Vermessung von Bewegungen und Oberflächendeformationen. Bei der ESPI erfolgt die Aufzeichnung der überlagerten Objekt- und Referenzwelle im Allgemeinen mit einem CCD-Sensor. Der Einsatz von räumlichen Phasenschiebeverfahren ermöglicht dabei eine gegenüber äußeren Störungen unempfindliche quantitative Bestimmung der Differenzphase, aus der sich unter geeigneten Randbedingungen die zugrundeliegende Deformation bestimmen lässt. Insbesondere bei biologischen Oberflächen sind zusätzlich zu den interferometrischen Daten auch Farbinformationen über das untersuchte Objekt bei Weißlichtbeleuchtung von großem Vorteil. Aus diesem Grund werden drei Firewire-basierte Farb-CCD-Kamerasysteme im Vergleich mit einem SW-CCD-Kamerasystem auf ihre Einsatzmöglichkeit bei der räumlich phasenschiebenden ESPI bei einer Laserlichtwellenlänge von ?=514,5 nm untersucht. Es werden Ergebnisse zur Kameracharakterisierung vorgestellt und diskutiert.