Untersuchungen zur Optimierung der Kurzkohärenz-Speckleinterferometrie

Zur tiefenaufgelösten Untersuchung von geschichteten Systemen, z.B. Farbschichten oder Verbundmaterialien, wird seit einigen Jahren das Verfahren der Kurzkohärenz-Speckleinterferometrie (low coherence speckle interferometry, LCSI) eingesetzt. Ein zentrales Problem beim Einsatz von LCSI ist die Qualität in den ermittelten Phasenkarten aufgrund von Dekorrelation der zugrunde liegenden Specklemuster. Um die Grenzen des Verfahrens zu ermitteln und um den Rauschanteil in den Phasenkarten zu minimieren, wurden Messungen an geschichteten Testobjekten bei verschiedenen Schichtabständen und Verkippungen durchgeführt. Es zeigt sich, dass sowohl die Größe der Verformungen der jeweiligen Schichten als auch deren Abstand maßgeblich die Qualität der Phasenkarten bestimmen. Verschiedene Parameter des Versuchsaufbaus wurden variiert und die Auswirkungen auf die Messergebnisse bestimmt. Weiterhin wurde auf der Grundlage der existierenden Beugungstheorien versucht, die Lichtstreuung in einem Zweischichtensystem analytisch zu beschreiben um die zugrunde liegenden physikalischen Prozesse besser zu verstehen. Erste Ergebnisse und die Auswirkungen auf die Anwendung des Verfahrens werden präsentiert.