Ein preiswertes phasenschiebendes ESPI-System mit frequenzverdoppeltem Nd:YVO4-Lasermodul für Verformungsmessungen an kleinen Objekten

Institut für Physik, Carl von Ossietzky Universität Oldenburg

hergen.oltmann@uni-oldenburg.de

Abstract

Wir stellen ein elektronisches Specklemuster-Interferometer (ESPI) vor, das für Kosten von wenigen 100 € zu realisieren ist. Das System eignet sich für Verformungsanalysen an kleinen Objekten sowie zum Einsatz in der Ausbildung, z.B. in Optik-Praktika. Als Lichtquelle dient ein diodengepumptes Nd:YVO4-Lasermodul mit Frequenzverdopplung (lambda = 532 nm) und Leistungsstabilisierung (P ca. 5 mW). Objekt- und Referenzstrahl werden z.T. über Glasfasern geführt. Die Signalaufnahme erfolgt mit einer CCD-Firewire-Kamera. Für quantitative Verformungsmessungen kommt räumliches Phasenschieben zum Einsatz. Wir präsentieren Einsatzmöglichkeiten des Systems und zeigen, wie einige Limitierungen, die sich aus den optischen Eigenschaften des Lasermoduls ergeben, überwunden werden können.

Keywords

Interferometrie Speckle
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@inproceedings{dgao108-p28, title = {Ein preiswertes phasenschiebendes ESPI-System mit frequenzverdoppeltem Nd:YVO4-Lasermodul für Verformungsmessungen an kleinen Objekten}, author = {H. Oltmann, H. Helmers}, booktitle = {DGaO-Proceedings, 108. Jahrestagung}, year = {2007}, publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.}, issn = {1614-8436}, note = {Poster P28} }
108. Jahrestagung der DGaO · Heringsdorf · 2007