Ein preiswertes phasenschiebendes ESPI-System mit frequenzverdoppeltem Nd:YVO4-Lasermodul für Verformungsmessungen an kleinen Objekten
- Institut für Physik, Carl von Ossietzky Universität Oldenburg
hergen [dot] oltmann [at] uni-oldenburg [dot] de
Wir stellen ein elektronisches Specklemuster-Interferometer (ESPI) vor, das für Kosten von wenigen 100 € zu realisieren ist. Das System eignet sich für Verformungsanalysen an kleinen Objekten sowie zum Einsatz in der Ausbildung, z.B. in Optik-Praktika. Als Lichtquelle dient ein diodengepumptes Nd:YVO4-Lasermodul mit Frequenzverdopplung (lambda = 532 nm) und Leistungsstabilisierung (P ca. 5 mW). Objekt- und Referenzstrahl werden z.T. über Glasfasern geführt. Die Signalaufnahme erfolgt mit einer CCD-Firewire-Kamera. Für quantitative Verformungsmessungen kommt räumliches Phasenschieben zum Einsatz. Wir präsentieren Einsatzmöglichkeiten des Systems und zeigen, wie einige Limitierungen, die sich aus den optischen Eigenschaften des Lasermoduls ergeben, überwunden werden können.
@inproceedings{oltmann2007p28,
author = {Oltmann, Hergen and Helmers, Heinz},
title = {{Ein preiswertes phasenschiebendes ESPI-System mit frequenzverdoppeltem Nd:YVO4-Lasermodul für Verformungsmessungen an kleinen Objekten}},
booktitle = {DGaO-Proceedings 2007},
series = {DGaO-Proceedings},
eventtitle = {108. Jahrestagung der DGaO},
eventdate = {2007-05-30/2007-06-02},
venue = {Heringsdorf},
publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
year = {2007},
pages = {P28},
langid = {ngerman},
url = {https://dgao-proceedings.de/paper/108-p28}
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