Simulation von Speckle-Mustern im Nahfeld

Diese Arbeit handelt sich um die Simulation von Speckle-Bildern an verschiedenen Ebene nah von der rauhen Oberfläche. Numerisch werden die Rechnungen mit einem eigenen Programm durchgeführt. Mit diesem Ziel wird zuerst ein Modell für die Oberfläche vorgestellt. Vorausgesetz, die Probe wird mit einem ebenen Strahl beleuchtet, wird das elektrische Feld und das Intensitätsbild mittels des Fresnel-Kirchhoffschen Beugungsintegral ohne Näherung berechnet. Die Simulation zeigt ein Speckle-Muster mit verschiedenen Eigenschaften vom Strahlungsfeld in großem Abstand von der Oberfläche (Fernfeld).