Digitale Mehrwellenlängen-Holographie für die schnelle optische Inline Qualitätskontrolle
Fraunhofer Institut für Physikalische Messtechnik IPM, Freiburg
dirk.strohmeier@ipm.fraunhofer.de
Abstract
Die industrielle Inline Qualitätskontrolle erfordert in zunehmendem Maße die schnelle, berührungslose, hochpräzise topographische Erfassung unterschiedlichster Freiformflächen und Materialen. Messungen an teilweise spiegelnden und optisch rauen Oberflächen, z. T. mit steilen Kanten, stellen dabei besondere Herausforderungen an optische Messverfahren dar. Es werden Ergebnisse von Messungen mit digitalholographischer Mehrwellenlängen-Holographie präsentiert und Vor- und Nachteile der Kombination mit verschiedenen Phasenschiebeverfahren diskutiert.
Keywords
3D-Messtechnik
Holografie
Speckle
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A27) und der hinterlegten E-Mail-Adresse einen Upload-Link anfordern.
@inproceedings{dgao109-a27,
title = {Digitale Mehrwellenlängen-Holographie für die schnelle optische Inline Qualitätskontrolle},
author = {D. Strohmeier, D. Carl, M. Fratz, D. M. Giel, H. Höfler},
booktitle = {DGaO-Proceedings, 109. Jahrestagung},
year = {2008},
publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.},
issn = {1614-8436},
note = {Vortrag A27}
}
109. Jahrestagung der DGaO · Esslingen · 2008