Falschlicht, Streulicht, Geisterbilder - Simulation und Abhilfe

Licht, das auf unerwünschten Wegen zum Ziel kommt, senkt immer die Performance eines optischen Systems oder kann dieses sogar funktionsunfähig machen. Besonders an Auflichtmikroskopen kann Beleuchtungslicht durch Reflexion an Linsenflächen direkt und sehr störend ins Bild kommen, obwohl noch gar keine Probe eingesetzt ist. Mit Probe können dann Mehrfachreflexionen zwischen der Probe und Linsenflächen, Blenden oder anderen Teilen des optischen Gerätes störende Geisterbilder erzeugen. Im Vortrag werden Methoden gezeigt, wie optische Systeme speziell zum Auffinden und quantitativen Bewerten solcher Falschlichtpfade simuliert werden können. An einem Dunkelfeldmikroskop wird beispielhaft gezeigt, wie die unerwünschten Lichtwege identifiziert werden und mit welchen Mitteln diese unerwünschten Lichtwege selbst oder zumindest deren Auswirkung bekämpft werden können.