Projektion von Speckle-Mustern zur 3D Formvermessung

Friedrich-Schiller-Universität Jena,
Institut für angewandte Optik,
Fröbelstieg 1,
07743 Jena

martin.schaffer@uni-jena.de

Abstract

Herkömmliche Verfahren zur 3D-Vermessung mittels strukturierter Beleuchtung können statische Objekte hoch genau vermessen. Aufgrund der langen Messzeiten, welche zur Projektion und Aufnahme der Mustersequenzen benötigt werden, sind diese Verfahren ungeeignet um dynamische Objekte zu vermessen. In unserem Beitrag möchten wir ein Hochgeschwindigkeitsmusterprojektionssystem vorstellen, mit dem mehrere unabhängige 3D-Aufnahmen pro Sekunde realisiert werden können. Dazu werden auf das zu vermessende Objekt Specklemuster projiziert und von zwei Hochgeschwindigkeitskameras (200fps) aufgenommen. Diese Messdaten werden offline ausgewertet und liefern 10 dichte 3D Rekonstruktionen pro Messsekunde. Die Messgenauigkeit und Messzeit des Systems wird mit einem auf DLP-Technik basierenden 60Hz System verglichen.

Keywords

3D-Messtechnik Lichtquellen
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@inproceedings{dgao111-p20, title = {Projektion von Speckle-Mustern zur 3D Formvermessung}, author = {M. Schaffer, M. Grosse, R. Kowarschik}, booktitle = {DGaO-Proceedings, 111. Jahrestagung}, year = {2010}, publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.}, issn = {1614-8436}, note = {Poster P20} }
111. Jahrestagung der DGaO · Wetzlar · 2010