Kompensation verkippter Abbildungsebenen in der digitalholographischen Mikroskopie

Bei bestimmten Anwendungen quantitativer digitalholographischer Phasenkontrastverfahren kann mit linsenbasierten optischen Abbildungssystemen, wie z. B. Mikroskopobjektiven mit begrenzter Schärfentiefe, keine scharfe Abbildung der Probe im gesamten Bildfeld des Aufnahmesensors realisiert werden. Beispiele hierfür sind u. a. tomographische Verfahren, bei denen die Probe während der Messung verkippt werden muss, flächenhafte Phasenmessungen an transparenten Proben in Totalreflektionsgeometrie, sowie Messkonfigurationen in der zerstörungsfreien Oberflächenanalyse, bei denen der Prüfkörper nicht senkrecht zur optischen Achse positioniert werden kann. Eine Möglichkeit dieses Problem zu lösen ist die partielle Rekonstruktion von digitalen Hologrammen. Es werden Ergebnisse von Untersuchungen zur Optimierung der Qualität und Geschwindigkeit der digitalholographischen Rekonstruktion vorgestellt. An Beispielen von Testcharts und biologischen Proben wird demonstriert, dass auf diese Weise auch nachträglich Verkippungen von bis zu 80 Grad zur Objektebene fokussiert werden können.