Reduktion von Phasensingularitäten bei lateraler Shearing-Speckle-Interferometrie

Die Speckle-Interferometrie ist ein etabliertes Verfahren zur Bestimmung von Oberflächenabweichungen rauher Objekte. Dabei treten Phasensingularitäten auf, die durch die Verteilung der Intensitätswerte aufgrund der Speckle-Statistik begründet sind, und von der verwendeten Wellenlänge abhängen. Um den Rechenaufwand bei der Auswertung der Daten zu verringern und die Verwendung einfacher, bekannter Algorithmen zu ermöglichen, ist es sinnvoll, die Anzahl dieser Stellen mit unbestimmter Phase zu reduzieren. Um diese Reduktion zu erreichen, wird in diesem Beitrag eine physikalische Maßnahme vorgeschlagen, die in der Formung der verwendeten Lichtquelle besteht. Insbesondere soll der Speckle-Kontrast verringert werden, was die gewünschte Reduktion der Pixel mit Intensität Null zur Folge hat. Weiterhin soll Zwei-Wellenlängen-Interferometrie verwendet werden, um die effektive Wellenlänge des Lichts synthetisch zu erhöhen. Die Realisierung des geschilderten Prinzips geschieht in einem lateralen Shearing-Aufbau auf Basis zweier kaskadierter identischer Ronchi-Phasengitter.