Vergleichsmessungen mit einem neuen schnellen Bispektralmessplatz zur Charakterisierung fluoreszierender Materialien
Bundesanstalt für Materialforschung und –prüfung (BAM), Berlin
Abstract
Die verbesserte Signal- und Warnwirkung fluoreszierender Materialien gewinnt in vielen Bereichen an Bedeutung. Um definierte Sicherheitsstandards zu gewährleisten, ist daher die Charakterisierung ihrer spektralen und integraloptischen Eigenschaften unerlässlich. Aufgrund der Energieverschiebung im Spektrum fluoreszierender Materialien gegenüber dem Anregungsspektrum liefert bis heute nur die bispektrale 2-Monochromatoren-Methode (2MM) [1] eine bestrahlungsunabhängige materialcharakteristische Größe (Donaldson-Matrix [2]), aus der Reflexions-, Fluoreszenz- und Anregungsspektrum sowie Farbmaßzahlen für beliebige Bestrahlungsarten hervorgehen. Der modernisierte Bispektralmessplatz der BAM [3] erlaubt u.a. den Einsatz eines Arrayspektrometers, was die Messzeit erheblich reduziert. Voraussetzung für die Anwendung im akkreditierten Bereich ist nach DIN EN ISO/IEC 17025 eine umfassende Validierung. Durch Vergleichsmessungen zur bisherigen 2MM und anderen Spektrometern werden Einflussgrößen auf die Messunsicherheit analysiert und das Potential des neuen Aufbaus verdeutlicht. [1] CIE 182:2007 [2] R Donaldson, Br J Appl Phys 5 210, 1954 [3] A Günther, K-P Gründer, DGaO-Jahrestagung 2011