Verbessertes Stitching von 3D-Mikroskopiedaten auf Grundlage von Simulationsergebnissen

Im Rahmen der Charakterisierung von Messfehlern verschiedener 3D-Mikroskope auf Basis der konfokalen Mikroskopie und der Weißlichtinterferometrie wurde der Einfluss von Bildfehlern und Führungsabweichungen der Positionierungseinheiten analysiert. Auf Grundlage experimentell gewonnener Daten wurde eine Simulationssoftware erstellt, welche diese Fehler realitätsnah nachbilden kann. Mit Hilfe dieser Simulationen konnten Algorithmen zur Registrierung sich teilweise überlappender Messfelder entwickelt werden, welche Kombinationen der verschiedenen untersuchten Fehler berücksichtigen und ausgleichen können. Hierdurch wird eine genauere Registrierung bei einer größeren Zahl von Messfeldern ermöglicht. Zudem können im Rahmen einer optimierten Messstrategie Parameter wie Schrittweiten und Beleuchtungsstärken adaptiv angepasst werden. Auf diese Weise kann eine Messdatenregistrierung mit minimalem Überlappungsbereich bei nach wie vor hoher Zuverlässigkeit durchgeführt werden, was insbesondere bei Serienmessungen zu hoher Zeitersparnis führen kann.