Stitching von großen ebenen und sphärischen Flächen unter Produktionsbedingungen

Viele Hersteller optischer Flächen nutzen mittlerweile Interferometer auch in der Fertigung um schnell und berührungslos messen zu können. Bei sehr großen Flächen kann jedoch häufig nicht die gesamte Fläche erfasst werden. Spezielle Stitching-Interferometer sind aufgrund ihres hohen technischen Aufwandes oder der großen Gerätekosten bislang kaum in der Fertigung anzutreffen. Wir stellen eine Lösung vor, mit der der Messbereich von bereits in der Fertigung eingesetzten Interferometern nachträglich erweitert werden kann. Durch Ergänzung geeigneter Positionierelemente und zusätzlicher Software lässt sich praktisch jedes flächenmessende Interferometer zum Stitchsystem erweitern. Die Umgebungsanforderungen ändern sich dabei kaum und ermöglichen so schon in der Fertigung die Prüfung der ganzen Fläche. Je nach Anforderung kann diese Nachrüstung auch halb- oder vollautomatisch ausgelegt und somit Zeit eingespart und Bedienfehler reduziert werden. Die speziell entwickelte Software umfasst sowohl die Berechnung der optimalen Anzahl und der Positionen jeder Einzelmessung abhängig vom Interferometer und den Prüflingsdaten als auch die Zusammensetzung aller Teilmessungen zur Gesamtfläche.