Untersuchungen zur Punktbildverwaschungsfunktion in der Bildinversionsmikroskopie

Institut für Angewandte Optik, Friedrich-Schiller-Universität Jena

daniel.weigel@uni-jena.de

Abstract

Bei der Bildinversionsmikroskopie handelt es sich um ein Verfahren, bei welchem mit Hilfe eines bildinvertierenden Interferometers das laterale Auflösungsvermögen optischer Scanning-Mikroskope verbessert werden kann. In Kombination mit einem konfokalen Fluoreszenzmikroskop kann die Halbwertsbreite der Punktbildverwaschungsfunktion (PSF) beispielsweise um ca. 34% verringert und der Kontrast im Bild deutlich gesteigert werden. Während sich die laterale Ausdehnung der PSF bei Vergrößerung des konfokalen Pinholes verringert, nimmt sie jedoch in axialer Richtung zu. Daraus ergibt sich die Frage, ob es eine optimale Pinholegröße gibt und ob diese Eigenschaft für bestimmte Anwendungsgebiete sogar von Vorteil sein kann. Diese Problemstellungen werden untersucht und auch unter dem Aspekt des Rauschverhaltens diskutiert.

Keywords

Optische Systeme Interferometrie Mikroskopie
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@inproceedings{dgao114-p31, title = {Untersuchungen zur Punktbildverwaschungsfunktion in der Bildinversionsmikroskopie}, author = {D. Weigel, A. Kießling, R. Kowarschik}, booktitle = {DGaO-Proceedings, 114. Jahrestagung}, year = {2013}, publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.}, issn = {1614-8436}, note = {Poster P31} }
114. Jahrestagung der DGaO · Braunschweig · 2013