Ein Vorschlag zur objektiven Schlieren-Messtechnik in optischem Glas: erste Ergebnisse
Hochschule Pforzheim, Tiefenbronner Str. 65, D-75175 Pforzheim, Germany; 2 Hochschule Darmstadt, Schöfferstr. 3, D-64295 Darmstadt, Germany; 3 Eckelmann AG, D-65205 Wiesbaden, Germany; 4 SCHOTT AG, Advanced Optics, Hattenbergstr. 10, D-55122 Mainz, Germany
steffen.reichel@hs-pforzheim.de
Abstract
Eine Schliere ist eine lokale Änderung der Brechzahl im optischen Glas aufgrund lokaler Änderung der chemischen Zusammensetzung. Typische Strukturbreiten von Schlieren liegen zwischen 0,1 mm und 1,0 mm. Schlieren werden schon seit langem zuverlässig mit der Schattenwurf-Methode bei SCHOTT gemessen. Dabei entscheidet ein Prüfer aufgrund des Schattens das eine Schliere auf einem Beobachtungsschirm verursacht, um welche Schliere es sich handelt. Dabei wird traditionell zwischen Schlierenklasse A, B, C und D unterschieden. In dieser Präsentation wird ein neues Messverfahren vorgeschlagen, dass Mensch-unabhängig die Wellenfrontdeformation aufgrund einer Schliere bestimmt. Die Methode basiert auf der Schattenwurf-Methode - nutzt nun allerdings Methoden der Bildverarbeitung. So kann die Strukturbreite und auch die Wellenfrontdeformation bestimmt werden. Dies ist damit objektiver als bisher und im Einklang zur (neuen) Norm ISO 12123. Erste Ergebnisse des Messverfahrens werden vorgestellt, die eine maximale Abweichung der Wellenfront von < 8 nm (peak-to-valley) zeigen.