Deflektometrie unter Verwendung aperiodischer Sinusmuster

Seit den 1990er Jahren wird in der Deflektometrie überwiegend das Phasenschiebeverfahren verwendet, welches eine hohe Genauigkeit sowohl bei der Defekterkennung als auch bei einer 3D-Rekonstruktion gewährleistet. Um eine 3D-Rekonstruktion zu ermöglichen, müssen die phasenverschobenen Muster mit einer weiteren Musterart kombiniert werden. Zumeist werden hierfür binäre Muster, z. B. ein Gray-Code, verwendet. Als Alternative dazu wird ein neuer Ansatz vorgestellt, der auf der Verwendung aperiodischer Sinusmuster und deren Analyse mithilfe der normierten Kreuzkorrelation basiert. Der Vorteil besteht darin, dass nur eine Musterart projiziert wird, die sowohl die eineindeutige Zuordnung für die 3D-Rekonstruktion als auch eine hohe Genauigkeit ermöglicht. Die neue Methodik wird durch Simulation eines Stereo-Deflektometrie-Aufbaus auf ihre prinzipielle Funktionsweise hin untersucht. Darüber hinaus wird der Ansatz in einem bereits bestehenden Laboraufbau an spiegelnden Objekten getestet und mit dem Verfahren der phasenmessenden Deflektometrie verglichen.