Zentriermessung an Asphären - auch doppelseitig

Der Einsatz von leistungsstarken, leichten optomechanischen Abbildungssystemen gewinnt zunehmend an Bedeutung. Die Verwendung von asphärischen Oberflächen spielt dabei eine wesentliche Rolle. Für die Qualität der Abbildung ist bei der Asphäre die Dezentrierung mit Verschiebung und Verkippung um einen Freiheitsgrad kritischer als bei der Sphäre. Deshalb müssen die asphärischen Halbzeuge bereits während des Herstellugsvorvorgangs bestimmten Regeln der Zentrierung unterworfen werden. Ein anschließender Zentrierprozess wie bei Sphären, ist dann nämlich nicht mehr möglich. Der Ansatz der vignettierenden Feldblenden Technologie ermöglicht es, den lokalen, meridionalen Steigungsfehler auch am Rand der asphärischen Fläche präzise zu erfassen und zusammen mit der Zentrierabweichung des Scheitels die asphärische Achse zu bestimmen. Der große Messbereich - ohne Vignettierungseinschränkung wie beim AKF – und die hohe Schärfentiefe des V-SPOT-Prinzips erlauben bequemes Arbeiten auch mit großen Arbeitsabständen und an unzugänglichen Stellen. Ein Einblick in die neue Anwendung der Zentriermessung mit Multi-SPOT an Sphären und doppelseitigen Asphären von nur einer Seite wird zusätzlich gegeben.