Skalenübergreifende Streifenprojektion mittels Adaption der Triangulationsbasis

Im Rahmen des Forschungsbaus SCALE kooperieren verschiedene Institute der Leibniz Universität Hannover interdisziplinär, um skalenunabhängige Prozessketten zu erforschen. Für die Umsetzung dieser Vorhaben ist die flexible Referenzierung und die Ableitung von Regelungs- und Prozessgrößen aus den multiskaligen, dreidimensionalen Geometrieeigenschaften von Großbauteilen während der Bearbeitung erforderlich. Bisher genutzte optische Messsysteme stoßen hier aufgrund des Zielkonflikts zwischen der notwendigen lateralen und axialen Auflösung und der Größe des Messvolumens an ihre Grenzen. In diesem Beitrag wird ein in Entwicklung befindliches absolutreferenziertes Streifenprojektionssystem mit variabler Triangulationsbasis vorgestellt und diskutiert. Die Grundidee des Systems besteht darin, die Posen der Projektionseinheit und der Kamera unabhängig voneinander mithilfe eines Lasertrackingsystems zu bestimmen und aktiv durch Aktoren zu beeinflussen. Dadurch sollen die Sensoreigenschaften in Bezug auf das Messvolumen und die Auflösung angepasst werden. Zusätzlich werden erste Ergebnisse aus den Machbarkeitsstudien präsentiert.