Charakterisierung von Gestaltabweichungen technischer Oberflächen durch Strukturfunktions-Analyse

Zuverlässige Methoden zur quantitativen Erfassung von Gestaltabweichungen sind für die Qualitätssicherung essenziell. Zur Charakterisierung von Gestaltabweichungen bietet sich die Strukturfunktion (SF) an. Sie beschreibt gemittelte quadratische Höhendifferenzen in Abhängigkeit vom Abstand der zugehörigen Positionen. Die SF ist ein Werkzeug für die statistische Analyse von Form-Rohdaten und kann für beliebige Aperturen und Geometrien verwendet werden. Sie ermöglicht die Identifizierung lokaler und globaler Charakteristika in der Ortsfrequenz und somit die Gewinnung relevanter Parameter. Diese Arbeit zeigt die Eignung der SF zur Quantifizierung von Gestaltabweichungen nach DIN 4760 an technischen Oberflächen. Mit der SF lassen sich Rauheit, Formabweichungen und Welligkeiten auf beliebig geformten Oberflächen charakterisieren. Zudem lassen sich Oberflächenmerkmale durch geschickte Parameterwahl gezielt und effizient identifizieren. Eine Fensterung der Strukturfunktion ermöglicht lokale Aussagen über die Oberfläche bezüglich Fehlstellen und die hochpräzise Detektion von Rauheitsunterschieden.