Spektrale Speckle-Korrelation zur flächigen Bestimmung der Oberflächenrauheit

* Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM, Freiburg;
** Institut für Nachhaltige Technische Systeme, Albert-Ludwigs-Universität Freiburg;
*** Institut für Technische Optik, Universität Stuttgart

patrick.laux@ipm.fraunhofer.de

Abstract

Die Oberflächenrauheit ist ein entscheidendes Qualitätsmerkmal in der Blechbearbeitung. In diesem Vortrag wird die Methode der spektralen Speckle-Korrelation (SSC) vorgestellt, bei der das Speckle-Muster der Oberfläche bei unterschiedlichen Wellenlängen erfasst wird. Durch die Korrelation aufgenommener Speckle-Bilder wird die Oberflächenrauheit bestimmt: An Oberflächen mit größerer Rauheit zeigen diese eine geringere Korrelation. Dies führt zu schnellen, flächigen und kontaktfreien Messungen. In diesem Beitrag wird erläutert, wie die Auswertefläche gewählt und störende Einflüsse der Oberfläche reduziert werden, um eine Rauheitsmessung mit möglichst hoher Ortsauflösung zu ermöglichen. Es wird gezeigt, dass der Rauheitsparameter Sq von Oberflächen im Bereich von 0,81 µm bis 2,07 µm mittels SSC mit weniger als 5 % Abweichung von Referenzwerten bestimmt werden kann. Die Ergebnisse zeigen das Potenzial der Methode für Oberflächenmessungen von Bereichen mit einem Durchmesser von 15 mm. 10 les T tark

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@inproceedings{dgao126-a2, title = {Spektrale Speckle-Korrelation zur flächigen Bestimmung der Oberflächenrauheit}, author = {P. Laux*, A. Schiller*, A. Bertz*, D. Carl**, S. Reichelt***}, booktitle = {DGaO-Proceedings, 126. Jahrestagung}, year = {2025}, publisher = {Deutsche Gesellschaft für angewandte Optik e.V.}, issn = {1614-8436}, note = {Vortrag A2} }
126. Jahrestagung der DGaO · Stuttgart · 2025