Vignettierung als physikalisches Messprinzip zur Charakterisierung von Asphären

Bei der klassischen Optik wie in der Fotografie, industriellen Bildverarbeitung und Messtechnik mit Autokollimatoren spielt die Vignettierung eine entscheidende und leider problematische Rolle. Die Messung an asphärischen Bauteilen ist ebenfalls problematisch, da jahrhundertealte Methoden der Messung an Sphären den Wirkprinzipien der Asphäre entgegenstehen. Das physikalische Messprinzip des ‚Vignettierenden Feldblenden-Systems’ VFS löst das Problem der Vignettierung auf einfache Weise, indem es das vignettierte Gesichtsfeld auswertet. Wir zeigen im Vortrag das Messprinzip des VFS und als Anwendung die Charakterisierung von asphärischen Oberflächen wie z.B. die Güte der „Geradheit“ der Asphärenachse mit Darstellung der Lage der Regressionsachse im Raum. Neben der Ermittlung des äußeren Zentrierfehlers wird auch der sogenannte ‚innere Zentrierfehler‘ ausgewertet. Dies auch an Doppelasphären mit und ohne dass die Linse während der Messung umgedreht werden muss. Außerdem zeigen wir, wie mit Hilfe der Integration der direkt gemessenen Werte des sagittalen slope errors die Auswertung des ‚Mid Spacial Frequency Errors‘ MSFE der Oberfläche der Asphäre ermittelt und dargestellt wird. 50 ekte Formbestimmung A. Stark