T. Bothe

BIAS - Bremer Institut für angewandte Strahltechnik

4 Beiträge

A10 · Vortrag · 109. Tagung (2008)

Sichtstrahlkalibrierung für optisch abbildende Systeme

W. Li, T. Bothe, M. Schulte, C. v. Kopylow, N. Köpp, W. Jüptner

A23 · Vortrag · 109. Tagung (2008)

Reflektometrie - ein flexibles und robustes Messverfahren für unterschiedlichste Anwendungen im Mikro- und Makrobereich

C. v. Kopylow, T. Bothe, M. Schulte, W. Li, N. Köpp

P16 · Poster · 109. Tagung (2008)

Praxisgerechte Systemauslegung durch modulare analytische Messunsicherheitsmodellierung am Beispiel des Streifenprojektionssystems 3D-Kamera

T. Bothe, M. Schulte, W. Li, C. v. Kopylow, W. Jüptner

B30 · Vortrag · 107. Tagung (2006)

Höhe, Neigung oder Krümmung?

M. C. Knauer, T. Bothe, S. Lowitzsch, W. Jüptner, G. Häusler